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申请/专利权人：上海思立微电子科技有限公司
申请日：2023-10-24
公开（公告）日：2024-06-11
公开（公告）号：CN221124787U
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28;G01R1/04
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.11#授权
摘要：本实用新型提供了一种芯片测试治具，包括：底座，可拆卸地安装在具有多个引脚的测试板上，底座具有容置芯片的测试空间、以及可磁吸附在测试空间内的面板，面板具有至少一个穿孔，多个引脚能通过至少一个穿孔与芯片的焊盘电连接；测试空间具有至少一个侧边开口；至少一个定位卡具，定位卡具能沿侧边开口的方向可移动地连接在底座上，定位卡具的一端能与位于测试空间内的芯片抵接并将芯片卡设在底座上。通过相对于底座移动的定位卡具，实现对待测试芯片的抵接固定，进而使得整个测试治具能够兼容更大范围和不同规格的芯片的测试，提升了测试治具的兼容性，降低了芯片测试治具的成本。
主权项：1.一种芯片测试治具，其特征在于，包括：底座，可拆卸地安装在具有多个引脚的测试板上，所述底座具有容置芯片的测试空间、以及可磁吸附在所述测试空间内的面板，所述面板具有至少一个穿孔，多个所述引脚能通过至少一个所述穿孔与所述芯片的焊盘电连接；所述测试空间具有至少一个侧边开口；至少一个定位卡具，所述定位卡具能沿所述侧边开口的方向可移动地连接在所述底座上，所述定位卡具的一端能与位于所述测试空间内的所述芯片抵接并将所述芯片卡设在所述底座上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海思立微电子科技有限公司 芯片测试治具
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