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芯片测试装置 

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申请/专利权人:欣旺达动力科技股份有限公司

摘要:本申请实施例提供了一种芯片测试装置,通过隔离开关电源搭配LDO线性电源模块来模拟真实电芯,通过多个隔离开关电源和多个LDO线性电源模块,组成多路模拟电芯,从而实现模拟电池组,并通过第一通断单元和第二通断单元的配合,控制对应的隔离开关电源和LDO线性电源模块在电路中的通断,从而根据不同的测试场景的需求,控制模拟的电池组的电芯串数,并且能够避免模拟的电池内阻远大于真实电芯内阻的问题;通过第一通断单元和第二通断单元的配合,能够防止进行串数调整时,第二通断单元闭合导致LDO线性电源模块短路导致损坏。

主权项:1.一种芯片测试装置,其特征在于,包括:多个隔离开关电源,每个所述隔离开关电源的输入端用于与电源连接;多个LDO线性电源模块,所述LDO线性电源模块与所述隔离开关电源一一对应连接,所述LDO线性电源模块与所述隔离开关电源之间设置有第一通断单元,所述LDO线性电源模块用于调整所述隔离开关电源输出的电压,每个所述LDO线性电源模块相互串联,多个所述LDO线性电源模块中的第二个至倒数第二个所述LDO线性电源模块分别设置有第二通断单元,其中,所述第二通断单元设置在所述LDO线性电源模块的输出正极和输出负极之间;连接器,所述连接器与每个所述LDO线性电源模块的输出正极和输出负极连接,所述连接器用于与待测试电路板连接。

全文数据:

权利要求:

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