申请/专利权人:嘉兴永瑞电子科技有限公司
申请日:2023-11-08
公开(公告)日:2024-06-11
公开(公告)号:CN221124853U
主分类号:G01R33/00
分类号:G01R33/00;G01R33/02;B07C5/344
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.11#授权
摘要:本实用新型公开了一种检测总成,包括:待检测件,所述待检测件上设置有第一定位部;检测台,所述检测台上连接有所述待检测件,所述检测台设置有检测通道,所述检测台设置有第二定位部,所述第二定位部和所述第一定位部定位配合;检测计,所述检测计包括:探针,所述探针贯穿所述检测通道,所述探针包括:检测部,所述检测部位于待检测件的下方,检测待检测件的霍尔功能。其中,待检测件通过第一定位部与检测台定位安装,探针在待检测件的下方检测该位置的磁场强度,判断磁场强度是否在待检测件的霍尔元件的触发门限内,判断待检测件的霍尔功能是否正常,可以筛选出霍尔功能处于临界状态的待检测件进行及时拦截。
主权项:1.一种检测总成,所述检测总成用于检测待检测件10的霍尔功能,其特征在于,所述检测总成包括:待检测件10,所述待检测件10上设置有第一定位部11;检测台20,所述检测台20用于连接所述待检测件10,所述检测台20设置有第二定位部23,所述第二定位部23和所述第一定位部11定位配合;检测计30,所述检测计30包括:探针31,所述探针31包括:检测部311,所述检测部311位于所述待检测件10的下方,且用于检测所述待检测件10的霍尔功能。
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权利要求:
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