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一种Nand Flash存储器的坏块判断与数据存储方法 

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申请/专利权人:航天科工惯性技术有限公司

摘要:本发明提供了一种NandFlash存储器的坏块判断与数据存储方法,所述方法包括:S10、获取NandFlash存储器的出厂坏块,并建立原始坏块表;S20、基于原始坏块表对NandFlash存储器中的非出厂坏块进行擦除,获取擦除过程中新产生的坏块,并将新产生的坏块的编号更新至原始坏块表;S30、基于更新后的坏块表对NandFlash存储器中的非坏块按页进行写入,以完成NandFlash存储器的数据存储。本发明能够解决现有技术中NandFlash存储器存在坏块导致数据存取时可靠性较低的技术问题。

主权项:1.一种NandFlash存储器的坏块判断与数据存储方法,其特征在于,所述方法包括:S10、获取NandFlash存储器的出厂坏块,并建立原始坏块表;S20、基于原始坏块表对NandFlash存储器中的非出厂坏块进行擦除,获取擦除过程中新产生的坏块,并将新产生的坏块的编号更新至原始坏块表;S30、基于更新后的坏块表对NandFlash存储器中的非坏块按页进行写入,以完成NandFlash存储器的数据存储;其中,在S30中,基于更新后的坏块表对NandFlash存储器中的非坏块按页进行写入,以完成NandFlash存储器的数据存储包括:S31、基于更新后的坏块表判断待写入的当前页所在块是否为坏块,若是,转至S32,否则,转至S33;S32、当前页地址增加64,并转至S31;S33、判断当前页是否为首页,若是,转至S35,否则,转至S34;S34、将待拷贝坏块中当前页之前的所有页的数据拷贝至当前块对应页,并判断是否拷贝成功,若是,转至S35,否则,转至S37;其中,待拷贝坏块为当前块之前最近的有效块之后的第一个坏块;S35、写入当前页,并判断是否写入成功,若是,转至S36,否则,转至S37;S36、判断是否完成当前块所有页的写入,若是,当前页地址增加1,并转至S31,否则,当前页地址增加1,并转至S35;S37、将当前页所在块的编号加入更新后的坏块表,并转至S32。

全文数据:

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