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【发明公布】一种可变光圈的测量方法及装置_昆山丘钛微电子科技股份有限公司_202410211826.6 

申请/专利权人:昆山丘钛微电子科技股份有限公司

申请日:2024-02-27

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN118200514A

主分类号:H04N17/00

分类号:H04N17/00;H04N23/55;H04N23/67

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.14#公开

摘要:本发明提供了一种可变光圈的测量方法及装置,方法包括:利用目标深度学习模型对光圈图像进行识别,获得可变光圈花瓣形成的进光孔的形状;根据所述进光孔的形状调用对应的参数测量策略;根据所述参数测量策略对所述可变光圈的参数进行测量;如此,先利用深度学习模型准确识别出进光孔的形状,再根据该形状调用对应的参数测量策略,根据参数测量策略确定出对应的光圈参数;整个过程只需要人工对可变光圈进行拍摄,其余过程无需人工参与,降低人工原因带来的误差,因此可提高光圈参数的测量效率及准确度。

主权项:1.一种可变光圈的测量方法,其特征在于,所述方法包括:利用目标深度学习模型对光圈图像进行识别,获得可变光圈花瓣形成的进光孔的形状;根据所述进光孔的形状调用对应的参数测量策略;根据所述参数测量策略对所述可变光圈的参数进行测量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 昆山丘钛微电子科技股份有限公司 一种可变光圈的测量方法及装置

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