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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所
申请日：2024-02-28
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118199630A
主分类号：H03L7/26
分类号：H03L7/26;H03L1/02
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.02#实质审查的生效;2024.06.14#公开
摘要：本发明提供一种温度测量补偿电路及相干布居数囚禁原子钟。其中，该补偿电路包括：温度测量电路、MCU电路和磁场控制电路；温度测量电路连接MCU电路，MCU电路连接磁场控制电路；温度测量电路测量相干布居数囚禁原子钟内部的实际温度，并将实际温度对应的第一电压输入至MCU电路，MCU电路基于第一电压，确定补偿磁场量，并将补偿磁场量对应的第二电压输入至磁场控制电路，磁场控制电路根据第二电压，对相干布居数囚禁原子钟内的磁场进行补偿。本发明能够在相干布居数囚禁原子钟内部存在温度变化时进行磁场补偿，保证相干布居数囚禁原子钟稳定输出。
主权项：1.一种温度测量补偿电路，其特征在于，包括温度测量电路、MCU电路和磁场控制电路；所述温度测量电路连接所述MCU电路，所述MCU电路连接所述磁场控制电路；所述温度测量电路测量相干布居数囚禁原子钟内部的实际温度，并将所述实际温度对应的第一电压输入至所述MCU电路，所述MCU电路基于所述第一电压，确定补偿磁场量，并将所述补偿磁场量对应的第二电压输入至所述磁场控制电路，所述磁场控制电路根据所述第二电压，对所述相干布居数囚禁原子钟内的磁场进行补偿。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第十三研究所 温度测量补偿电路及相干布居数囚禁原子钟
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