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一种基于和面机的面团检测装置及检测方法 

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申请/专利权人:武汉市巽皇食品有限公司

摘要:本发明涉及图像数据处理技术领域,具体涉及一种基于和面机的面团检测装置及检测方法,方法包括:获取淀粉图像,进而得到多个淀粉粒图像;对于一个淀粉粒图像,对淀粉粒图像的灰度值进行聚类,得到多个簇;根据像素点的数量与灰度值找到疑似缺陷簇;对于疑似缺陷簇,根据灰度值与聚类中心的差异,判断像素点是否为核心像素点,进而根据灰度值和数量,对核心像素点的灰度值进行修正;对所有疑似缺陷簇进行修正,得到增强后的淀粉粒图像;对所有增强后的淀粉粒图像分别进行处理,判断淀粉是否存在缺陷,判断面团是否存在缺陷。本发明对淀粉粒进行缺陷检测的准确率较高,提高了对面团进行缺陷检测或质量检测的准确率。

主权项:1.一种基于和面机的面团检测方法,其特征在于,包括:获取待检测淀粉的淀粉图像;对淀粉图像进行灰度化处理并且使用分割算法,得到多个淀粉粒图像;对于一个淀粉粒图像,对淀粉粒图像的灰度值进行聚类,得到多个簇;聚类中心的获取方法,包括:设置多个聚类中心,根据淀粉粒图像中像素点的灰度值对应的灰度级与聚类中心,得到灰度级与聚类中心之间的所属度;根据所述灰度级与所属度更新聚类中心,直到所述聚类中心满足停止条件停止更新;其中,计算灰度级与聚类中心之间的所属度的公式为: ,其中,为淀粉粒图像中第i个灰度级与第j个聚类中心的所属度,为以自然常数e为底的指数函数,为所述第i个灰度级,为第j个聚类中心的灰度级,为高斯函数的参数,该参数为第一预设值,k为聚类中心的总数量;更新聚类中心的公式为: ,其中,为第j个聚类中心的值,为第i个灰度级,为第i个灰度级与第j个聚类中心的所属度;根据簇中的像素点的数量与灰度值,从所述多个簇中找到疑似缺陷簇;对于一个疑似缺陷簇,根据灰度值与聚类中心的差异,判断像素点是否为核心像素点;根据核心像素点的灰度值和数量,以及疑似缺陷簇中像素点的数量,对核心像素点的灰度值进行修正,从而完成对一个疑似缺陷簇的修正;进而对所有疑似缺陷簇进行修正,得到增强后的淀粉粒图像;对所有所述增强后的淀粉粒图像分别进行处理,从而判断所述待检测淀粉是否存在缺陷,从而判断所述淀粉对应的面团是否存在缺陷;其中,根据灰度值与聚类中心的差异,判断像素点是否为核心像素点,包括:根据灰度值与聚类中心的差异,得到差异度;根据差异度判断像素点是否为核心像素点;其中,计算差异度的公式为: ,其中,为第m个像素点与聚类中心的差异度,为第m个像素点的灰度值,为聚类中心的值,表示标准归一化函数,为该疑似缺陷簇中的像素点总数,为第m个像素点的灰度值与聚类中心的值的差值绝对值,表示乘号。

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