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申请/专利权人：清华大学
摘要：本发明提供一种理论等温线计算方法、表征孔径分布的方法和装置，该方法包括获取密度泛函理论模型中的计算参数，根据计算参数计算流体在模型孔内的局部密度；根据超额吸附量计算式和局部密度，计算第一预设孔径点集和第一预设压力点集对应的第一超额吸附量，计算第一超额吸附量随第一预设压力点集的变化率，计算变化率超过阈值时所对应的两个压力值之间的第二预设压力点集所对应的第二超额吸附量；对第一超额吸附量和第二超额吸附量进行拟合，得到理论等温线数据。本方案实现了对第一超额吸附量的进一步细化计算，既不浪费计算资源的同时，又不损失计算的等温线数据的关键信息，提高了理论等温线数据的准确性和可靠性。
主权项：1.一种理论等温线计算方法，其特征在于，包括：获取Lennard-Jones流体的权重密度泛函理论模型中的计算参数，所述计算参数包括流体-流体能量参数、流体-流体尺寸参数、流体硬球直径、流体-固体能量参数以及流体-固体尺寸参数，根据所述计算参数，基于所述Lennard-Jones流体的权重密度泛函理论模型计算流体在模型孔内的局部密度分布；根据超额吸附量计算式和局部密度分布，计算第一预设孔径点集和第一预设压力点集对应的表面超额吸附量点集，得到第一超额吸附量；计算所述第一超额吸附量随所述第一预设压力点集的变化的变化率，确定所述变化率超过阈值时所对应的两个压力值为第一预设压力值和第二预设压力值；计算位于所述第一预设压力值和第二预设压力值之间的第二预设压力点集所对应的表面超额吸附量点集，得到第二超额吸附量；对所述第一超额吸附量和第二超额吸附量进行拟合，得到理论等温线数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 清华大学 理论等温线计算方法、表征孔径分布的方法和装置
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