申请/专利权人：特里纳米克斯股份有限公司

申请日：2022-11-08

公开（公告）日：2024-06-18

公开（公告）号：CN118215820A

主分类号：G01B11/25

分类号：G01B11/25;G06T7/80;G06T7/521;G01B21/04

优先权：["20211109 EP 21207250.8"]

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.06.18#公开

摘要：提出了一种用于校准检测器114的至少一个相机110和至少一个投影仪112的方法。投影仪112被配置用于利用包括多个照射特征的至少一个照射图案来照射至少一个对象116，其中，相机110具有至少一个传感器元件120，该至少一个传感器元件具有光学传感器矩阵，这些光学传感器各自具有光敏区域，其中，每个光学传感器被设计为响应于从对象116传播到相机110的光束对光学传感器的相应光敏区域的照射而生成至少一个传感器信号。

主权项：1.一种用于校准检测器114的至少一个相机110和至少一个投影仪112的方法，其中，该投影仪112被配置用于利用包括多个照射特征的至少一个照射图案来照射至少一个对象116，其中，该相机110具有至少一个传感器元件120，该至少一个传感器元件具有光学传感器矩阵，这些光学传感器各自具有光敏区域，其中，每个光学传感器被设计为响应于从该对象116传播到该相机110的光束对光学传感器的相应光敏区域的照射而生成至少一个传感器信号，其中，该方法包括以下步骤：a122在该对象116的至少一个第一预定义距离处，通过使用该投影仪112利用该照射图案照射该对象116，通过使用该相机110成像出至少一个第一反射图像，该至少一个第一反射图像包括由该对象116响应于由这些照射特征的照射而生成的多个第一反射特征；b124在与该第一距离不同的距该对象116的至少一个第二预定义距离处，通过使用该投影仪112利用该照射图案来照射该对象116，通过使用该相机110成像出至少一个第二反射图像，该至少一个第二反射图像包括由该对象116响应于由这些照射特征的照射而生成的多个第二反射特征；c126通过使用该检测器114的至少一个评估装置128来评估该第一反射图像和该第二反射图像，其中，该评估包括c1考虑该第一预定义距离和该第二预定义距离来匹配这些第一反射特征和这些第二反射特征，从而确定匹配的第一反射特征和第二反射特征对；c2针对这些匹配的第一反射特征和第二反射特征对中的每一对确定对极线，其中，这些相应的匹配的第一反射特征和第二反射特征位于该对极线上；d130通过使用该评估装置128使用所确定的对极线来确定该相机110和该投影仪112的对准信息，其中，该对准信息包括该相机110与该投影仪112之间的平移和或旋转；e132通过使用该评估装置128将该对准信息与平移和或旋转的至少一个预定义标称值进行比较，从而确定平移和或旋转的校正值；f134在该对准信息超过该预定义标称值至少一个预定义公差范围以上的情况下，校正该投影仪112和该相机110的对准。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 特里纳米克斯股份有限公司 基于结构光的3D检测器的重新校准

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