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申请/专利权人：西安电子科技大学
申请日：2024-03-05
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN118209790A
主分类号：G01R29/10
分类号：G01R29/10;G01R29/08
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.18#公开
摘要：本发明公开了一种适用于任意扫描采样面的无相位天线近远场变换方法，设置近场测试初始化参数；获取待测天线在近场区域的场的幅度数据；构造场与源之间的积分方程；根据矩量法将积分方程转换为矩阵方程；解矩阵方程得到等效源；外推待测天线远场特性。本发明能够根据在待测天线近场区域获取天线的近场幅度数据，拟合一个完全等效待测天线的等效源，由等效源外推待测天线的远场辐射特性，进而对待测天线实现近远场变换。
主权项：1.一种适用于任意扫描采样面的无相位天线近远场变换方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，设置近场测试系统的初始化参数；步骤2，分别在待测天线近场区域的两个不同的扫描采样面上采集待测天线的幅度数据；步骤3，利用对偶原理，将等效源设为磁流，根据场与源的积分关系构建积分方程；步骤4，利用矩量法将所述积分方程转化为矩阵方程；步骤5，利用步骤2中所述采集的幅度数据作为矩阵方程的输入，对步骤4中所述矩阵方程进行求解；步骤6，由求解得到的待测天线等效源外推天线的远场特性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安电子科技大学 一种适用于任意扫描采样面的无相位天线近远场变换方法
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