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申请/专利权人：美光科技公司
摘要：本申请涉及适应存储器装置预期寿命的垃圾数据收集。论述了用于使存储器装置中的垃圾数据收集GC操作适应经估计装置使用年限的系统和方法。示例性存储器装置包含存储器控制器，用于：跟踪实际装置使用年限；使用物理写入计数和所述存储器装置的预期使用寿命内的总写入次数确定装置磨损度量；估计磨损所指示的装置使用年限；以及根据所述磨损所指示的装置使用年限与所述实际装置使用年限的相对关系来调整将通过GC操作释放的存储器空间量。所述存储器控制器还可根据所述磨损所指示的装置使用年限与所述实际装置使用年限的相对关系，在单层级单元SLC高速缓存和多层级单元MLC存储装置之间动态地重新分配所述存储器单元的一部分。
主权项：1.一种存储器装置，其包括：一组存储器单元；以及存储器控制器，其包含：装置使用年限跟踪器电路，其经配置以：从初始存储器写入操作开始跟踪所述存储器装置的实际装置使用年限，并使用物理写入计数和所述存储器装置的预期使用寿命内的总写入次数来确定装置磨损度量，所述物理写入计数表示在所述所跟踪的实际装置使用年限内累积的物理地写入到所述存储器单元的数据量；以及根据所述所确定的装置磨损度量来估计磨损所指示的所述存储器装置的装置使用年限；以及垃圾数据收集GC控制器，其经配置以比较所估计的磨损所指示的装置使用年限与所跟踪的实际装置使用年限，且基于所述所估计的磨损所指示的装置使用年限与所述所跟踪的实际装置使用年限之间的比较来调整将通过所述一组存储器单元的一部分上的GC操作释放的存储器空间量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 美光科技公司 适应存储器装置预期寿命的垃圾数据收集
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