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申请/专利权人：哈米尔顿森德斯特兰德公司
摘要：一种空间差异测量方法可以包括生成对象的标称3D模型的第一框架的第一关键特征，并且将该第一关键特征外推至标称3D模型上。该方法可以包括在（真实的或模拟的）构建过程期间或之后创建对象的实际3D模型。该方法可以包括生成对象的实际3D模型的第二框架的第二关键特征，并且将该第二关键特征外推至对象的实际3D模型上。该方法可以包括将在标称3D模型上外推的第一关键特征与在实际3D模型上外推的第二关键特征进行比较，以确定第一关键特征与第二关键特征之间的一个或多个距离，从而在构建期间或之后测量标称3D模型与对象之间的空间差异。
主权项：1.一种空间差异测量方法，其包括：生成对象的标称3D模型的第一框架的第一关键特征；将所述第一关键特征外推至所述标称3D模型上；在构建过程期间或之后创建所述对象的实际3D模型；生成所述对象的所述实际3D模型的第二框架的第二关键特征；将所述第二关键特征外推至所述对象的所述实际3D模型上；将在所述标称3D模型上外推的所述第一关键特征与在所述实际3D模型上外推的所述第二关键特征进行比较，以确定所述第一关键特征与所述第二关键特征之间的一个或多个距离，从而在构建期间或之后测量所述标称3D模型与所述对象之间的空间差异；以及接收对象的所述标称3D模型，并且基于所述标称3D模型生成所述第一框架；其中所述方法包括基于所述实际3D模型生成所述第二框架；其中生成所述第一框架包括使用中轴方法将所述标称3D模型转换成第一有限元网格。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 哈米尔顿森德斯特兰德公司 空间差异测量
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