申请/专利权人：江苏华存电子科技有限公司

申请日：2024-04-22

公开（公告）日：2024-06-18

公开（公告）号：CN118069075B

主分类号：G06F3/06

分类号：G06F3/06

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.18#授权;2024.06.11#实质审查的生效;2024.05.24#公开

摘要：本发明提出了一种应用于企业级固态硬盘的后台精细数据保持力扫描方法，其通过检测数据块的电压偏移量以及分布可以精确识别因为Retention特性而即将失效的数据块,并及时搬写到新的安全块，降低主机端IO产生错误处理发生的概率，降低误搬移概率，从而提高主机端的IO性能的稳定性，同时也保证了数据的安全性。

主权项：1.一种应用于企业级固态硬盘的后台精细数据保持力扫描方法，其特征在于：所述扫描方法包括以下步骤：步骤1、进行NAND数据保持力特性抽样测试；步骤2、上电后对未写完的块进行数据保持力扫描；步骤3、上电后对已经写完的块进行数据保持力扫描；步骤4、隔一段时间对已经写完的块进行数据保持力扫描；所述步骤1包括对未写完的块进行数据保持力特性抽样测试和对已经写完的块进行数据保持力特性抽样测试；所述对已经写完的块进行数据保持力特性抽样测试，具体为：步骤1-1-1、预磨损测试：对采样块进行擦写的磨损，直到所有的采样块都达到预设的PE值（一个写入擦除周期）；步骤1-1-2、擦写所有的处于不同PE阶段的采样块,将整个块写到已经写完状态（Closed态）；步骤1-1-3、获取所有采样页的电压分布图；步骤1-1-4、将NAND放进温箱进行烘烤；步骤1-1-5、获取所有读采样页的电压分布图，同时读取所有的页数据，获取比特错误数最多的页的电压分布图，同时统计重读发生概率；步骤1-1-6、重复步骤1-1-2至步骤1-1-5，直至所有烘烤采样结束，最后输出：数据1、已经写完的块的电压偏移量,包括不同PE值对应的不同时长下的数据保持力的电压偏移量；数据2、已经写完的块的重读发生概率,包括不同PE值对应的不同时长下的重读发生概率，该概率等于重读的数据单元除以总共写入的数据单元；所述对未写完的块进行数据保持力特性抽样测试，具体为：步骤1-2-1、预磨损测试：对采样块进行擦写的磨损，直到所有的采样块都达到预设的PE值（一个写入擦除周期）；步骤1-2-2、擦写所有的处于不同PE阶段的采样块,将整个块写到未写完状态（Open态）；步骤1-2-3、获取所有采样页的电压分布图；步骤1-2-4、将NAND放进温箱进行烘烤；步骤1-2-5、获取所有读采样页的电压分布图，同时读取所有的页数据，获取比特错误数最多的页的电压分布图，同时统计重读发生概率；步骤1-2-6、重复步骤1-2-2至步骤1-2-5，直至所有烘烤采样结束，最后输出：数据3、未写完的块的电压偏移量,包含不同PE值对应的不同时长下的数据保持力的电压偏移量；数据4、未写完的块的重读发生概率,包括不同PE值对应的不同时长下的重读发生概率，该概率等于重读的数据单元除以总共写入的数据单元。

全文数据：

权利要求：

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