申请/专利权人:深圳市蓉声科技有限公司
申请日:2023-11-07
公开(公告)日:2024-06-18
公开(公告)号:CN221174812U
主分类号:G01R29/08
分类号:G01R29/08
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.18#授权
摘要:本实用新型涉及一种雷达芯片天线测试系统,用于对天线集成于芯片的雷达进行性能测试,所述测试系统包括:探针台、显微镜和第一射频网络分析组件;所述探针台设置有承载平台,所述承载平台安装有探针;所述显微镜连接于所述承载平台,并可向远离承载平台的方向翻转,所述显微镜用于观察探针的位置;所述第一射频网络分析组件设置于所述承载平台,在所述探针和所述芯片接触后并且在所述测试系统接电工作时,用于收发测试信号。本实用新型减少了金属在测试过程中对结果的影响。
主权项:1.一种雷达芯片天线测试系统,用于对集成有天线的芯片进行天线性能测试,其特征在于,所述测试系统包括:探针台、显微镜和第一射频网络分析组件;所述探针台设置有承载平台,所述承载平台安装有探针;所述显微镜连接于所述承载平台,并可向远离承载平台的方向翻转,所述显微镜用于观察探针的位置;所述第一射频网络分析组件设置于所述承载平台,在所述探针和所述芯片接触后并且在所述测试系统接电工作时,用于收发测试信号。
全文数据:
权利要求:
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