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集成P-N层的高电子迁移率晶体管器件 

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申请/专利权人:美国亚德诺半导体公司

摘要:本公开涉及集成P‑N层的高电子迁移率晶体管器件。将p‑n二极管与诸如碳化硅SiC基板中的GaNHEMT集成的技术。p‑n二极管为器件提供雪崩鲁棒性,并为晶体管提供过电压保护。

主权项:1.一种化合物半导体异质结构晶体管器件,包括:基板;注入所述基板中的掺杂剂层,其中所述掺杂剂层包括形成第一区域的p型材料和形成第二区域的n型材料,并且其中所述第一区域与所述第二区域相邻;和第一半导体材料层,形成在第二半导体材料层上以形成具有二维电子气2DEG沟道的化合物半导体异质结构,其中所述2DEG沟道比所述第一半导体材料层或所述第二半导体材料层更导电。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 美国亚德诺半导体公司 集成P-N层的高电子迁移率晶体管器件

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