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沟槽型超级结器件及其制作方法 

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申请/专利权人:上海华虹宏力半导体制造有限公司

摘要:本发明提供一种沟槽型超级结器件及其制作方法,衬底表面依次形成有外延层一和外延层二,外延层一的掺杂浓度大于外延层二的掺杂浓度;多个平行的沟槽穿通外延层二并延伸至外延层一中;沟槽中形成有第二导电类型的填充外延层。本发明在衬底上形成双外延层结构,将衬底与填充外延层之间的外延层一缓冲区域掺杂浓度加浓,外延层一的掺杂浓度大于外延层二的掺杂浓度,达到降低导通电阻的目的。沟槽中的填充外延层延伸进入外延层一中一定深度,外延层一的掺杂浓度较大,达到超级结耗尽区域长度一致效果,击穿电压不受沟槽V深度影响或受沟槽V深度影响很小,实现击穿电压稳定的同时,降低导通电阻。实现方法简易且可操作性强,增强了器件能力。

主权项:1.一种沟槽型超级结器件,其特征在于,包括:衬底,所述衬底表面依次形成有外延层一和外延层二,所述外延层一的掺杂浓度大于所述外延层二的掺杂浓度,所述外延层一和所述外延层二均为第一导电类型;多个平行的沟槽穿通所述外延层二并延伸至所述外延层一中;所述沟槽中形成有第二导电类型的填充外延层。

全文数据:

权利要求:

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