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申请/专利权人：深圳市华怡丰科技有限公司
摘要：本申请涉及光电传感器技术领域，提供了一种光电传感器校准检测方法、装置、光电传感器及存储介质。本申请通过读取校准接口的信号，并根据所述信号设置校准标识位的值；基于校准标识值确定校准阈值，并由此计算应差值；控制光电传感器发射一次脉冲信号；获取接收信号，并在检测到发射标识位为预设值时，对接收信号进行采样处理，得到采样信号集合；从采样信号集合中获取多个采样信号，得到采样信号组；对采样信号组进行滤波处理，得到滤波信号；最后基于滤波信号、校准阈值和应差值，对光电传感器进行光电感应检测。本申请通过在出厂前对光电传感器进行校准检测，可以保证光电传感器的测量精度。
主权项：1.一种光电传感器校准检测方法，其特征在于，所述方法包括：读取校准接口的校准信号，并根据所述校准信号设置校准标识位的校准标识值，所述校准信号为所述光电传感器处于半成品状态下读取的；基于所述校准标识值确定校准阈值，并基于所述校准阈值得到应差值；控制光电传感器发射一次脉冲信号，并基于所述脉冲信号获取接收信号；在检测到发射标识位为预设发射标识值时，对所述接收信号进行采样处理，得到采样信号集合；从所述采样信号集合中获取多个采样信号，得到采样信号组；对所述采样信号组进行滤波处理，得到滤波信号；基于所述滤波信号、所述校准阈值及所述应差值对所述光电传感器进行光电感应检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市华怡丰科技有限公司 光电传感器校准检测方法、装置、光电传感器及存储介质
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