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申请/专利权人：北京无线电计量测试研究所
摘要：本发明提供一种双芯片单粒子试验用晶体振荡器，包括：第二谐振模组设置于基座上，第二芯片设置于第二谐振模组上，第一谐振模组和第二谐振模组间隔且平行设置于基座上，第一谐振模组和第二谐振模组位于同一轴线上，其中，第一谐振模组和第二谐振模组分别具有不同频率输出端用以信号测量，由于基座的独特设置能够同时放置第一谐振模组和第二谐振模组，从而能够同时对两个芯片进行单粒子试验，并根据不同频率输出端实时在线分别输出各自对应检测出的信号，判断其是否满足试验的要求，从而降低了试验成本，提高了试验效率。
主权项：1.一种双芯片单粒子试验用晶体振荡器，其特征在于，包括：基座；第一晶振单元和第二晶振单元，所述第一晶振单元和所述第二晶振单元间隔且平行设置于所述基座上，且所述第一晶振单元和所述第二晶振单元位于同一轴线上；所述第一晶振单元包括第一谐振模组和第一芯片，所述第一谐振模组设置于所述基座上，所述第一芯片设置于所述第一谐振模组上；所述第二晶振单元包括第二谐振模组和第二芯片，所述第二谐振模组设置于所述基座上，所述第二芯片设置于所述第二谐振模组上，所述第一谐振模组和所述第二谐振模组间隔且平行设置于所述基座上，所述第一谐振模组和所述第二谐振模组位于同一轴线上，其中，所述第一谐振模组和所述第二谐振模组分别具有不同频率输出端用以信号测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京无线电计量测试研究所 一种双芯片单粒子试验用晶体振荡器
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