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申请/专利权人：中国科学院大连化学物理研究所
摘要：本申请公开了一种在纳米空间尺度和微纳秒时间尺度测量光电材料表面光电压的方法及装置，所述方法包括：利用开尔文探针显微镜测量调制光激发下纳米尺度材料表面光电压信号，将调制光信号与局域表面光电压信号输入锁相放大器经相敏检测器运算输出调制光电压振幅和相位，改变激发光的频率得到光电压相位和幅值与激发频率的关系，利用相位关联时间函数数学解析得到不同相位信号对应的微纳秒时间尺度的瞬态光电压信息。此方法利用相位关联时间函数突破了传统开尔文探针显微镜测量光电压信号的毫秒时间分辨，为研究光电材料纳米尺度电荷分离和转移动力学过程提供有效途径。
主权项：1.一种在纳米空间尺度和微纳秒时间尺度测量光电材料表面光电压的方法，其特征在于，所述方法包括：1连续激发光通过斩波器转化为脉冲光，所述脉冲光经分光镜分成脉冲光I和脉冲光II，其中，脉冲光I与脉冲光II的频率和相位相同；2所述脉冲光I照射到光电检测器上，产生脉冲光参比信号；所述脉冲光II照射到置于原子力显微镜样品台上的纳米尺度样品的表面；3原子力显微镜使用开尔文探针显微镜模式测量所述纳米尺度样品的表面在脉冲光II的光照下的表面电势变化，获得的调制的表面光电压信号；4将所述脉冲光参比信号与所述表面光电压信号同时输入至锁相放大器，经运算、输出光电压的振幅A和相位θ信号；5通过式I、式II、式III，获得所述纳米空间尺度和微纳秒时间尺度的瞬态光电压信息；所述瞬态光电压信息包括光电压信号S和或光电压信号动力学参数τ； 其中，T为脉冲周期；+表示表面光电压信号为正信号，即表示光生空穴信号；-表示表面光电压信号为负信号，即表示光生电子信号；An为第n阶泰勒展开的振幅，θn为相应的相位。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院大连化学物理研究所 一种测量光电材料表面光电压的方法及装置
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