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申请/专利权人：华中科技大学
申请日：2024-03-07
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118226658A
主分类号：G02B27/48
分类号：G02B27/48;G01M11/02;G02B27/28;G02B27/62;G02B27/09;G02B5/08;G02B5/30
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开了一种基于激光光斑形位的光路检测系统及方法，属于激光设备技术领域。光路检测系统包括：反射元件、偏振镜、加热定位柱和检测单元；反射元件内嵌于激光设备壁中，根据射入的激光形成光斑和杂散激光，光斑辐射热红外线；加热定位柱包括多个，设置于反射元件的圆周上，加热辐射热红外线；偏振镜的镜面设置预设偏转角度，偏振镜的偏振方向与激光的偏振方向垂直，全反射杂散激光，透射热红外线；采样子单元内嵌于激光设备壁中，接收热红外线生成温度图像，并根据温度图像中的光斑图像的形位状态确定光路的传输状态是否正常。在光路封闭状态下进行光路检测，维持管内工作状态，提高了检测的精确度和效率，并可在激光设备工作中实时在线监测。
主权项：1.一种基于激光光斑形位的光路检测系统，其特征在于，包括：反射元件、偏振镜、加热定位柱和检测单元所述反射元件内嵌于激光设备壁中，用于在反射激光时在激光作用下受热形成辐射热红外线的光斑；其中，射入的激光经反射元件反射会产生杂散激光；所述加热定位柱包括多个，均设置于激光设备壁中，并且以所述反射元件中心为圆心的圆周上，用于加热后辐射热红外线；所述偏振镜设置于所述反射元件的反射方向上，且中心位于所述反射元件的中心轴线上，所述偏振镜的镜面与中心轴线之间设置预设偏转角度，并且所述偏振镜的偏振方向与激光的偏振方向垂直，用于全反射所述杂散激光，透射所述热红外线；所述检测单元包括采样子单元和处理器，所述采样子单元设置于所述反射元件的中心轴线上，且内嵌于所述激光设备壁中，用于接收所述偏振镜所透射的热红外线；所述处理器用于根据所述热红外线生成温度图像，并根据温度图像中的光斑对应的图像，确定光斑的大小和形状，根据温度图像中的加热定位柱对应的图像，确定光斑的位置，从而确定激光设备内的光路传输状态是否正常。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华中科技大学 一种基于激光光斑形位的光路检测系统及方法
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