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申请/专利权人：长春理工大学
申请日：2024-05-23
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118225076A
主分类号：G01C21/04
分类号：G01C21/04;G01C21/20
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开的地表反射率及多谱段天空偏振模式同时测量装置及方法，涉及偏振光学探测领域。本发明针对地表反射率对实际目标探测产生的影响，采用全方位多角度地表反射率测量系统，获得整个空间内观测的地表反射率，从而更好地区分不同地表类型的特征和性质。采用多谱段天空偏振模式测试系统进行多谱段天空偏振模式的测试，可采集不同波段下的天空偏振模式图像并进行融合，达到各波段优势互补去雾的目的。并且，结合全方位多角度地表反射率，能够为在恶劣天气环境下探测目标提供更全面、准确的天空背景光偏振模式及地表信息，在满足偏振检测过程中环境对偏振性能影响的需求的同时，实现雾天等特殊环境下多谱段天空偏振模式的精确测量。
主权项：1.一种地表反射率及多谱段天空偏振模式同时测量装置，其特征在于，所述装置包括：全方位多角度地表反射率测量系统、多谱段天空偏振模式测试系统和控制数据处理系统；所述全方位多角度地表反射率测量系统和所述多谱段天空偏振模式测试系统均与所述控制数据处理系统连接；所述全方位多角度地表反射率测量系统用于获取地表反射率信息；所述多谱段天空偏振模式测试系统用于获取天空偏振模式信息；所述控制数据处理系统用于生成控制指令，并用于对所述天空偏振模式信息进行融合处理，得到测量结果；所述控制指令用于控制所述全方位多角度地表反射率测量系统和所述多谱段天空偏振模式测试系统进行测量操作。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长春理工大学 地表反射率及多谱段天空偏振模式同时测量装置及方法
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