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【发明授权】显示屏漏光检测方法、电子设备及存储介质_高视科技(苏州)股份有限公司_202410484274.6 

申请/专利权人:高视科技(苏州)股份有限公司

申请日:2024-04-22

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118096732B

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/13;G06V10/25;G06V10/36

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.21#授权;2024.06.14#实质审查的生效;2024.05.28#公开

摘要:本申请公开了一种显示屏漏光检测方法、电子设备及存储介质。该方法包括:提取显示屏待检图像中的漏光区域检测图像;确定漏光区域检测图像中每一方形窗口区域内的灰度均值,得到灰度均值响应图;在漏光区域检测图像中确定漏光区域中线轮廓框,并在灰度均值响应图中提取漏光区域中线轮廓框对应的像素点;确定每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值,并且将每一像素点的灰度值更新为原始灰度值与最小灰度值之间的灰度差值,得到差值响应图;基于差值响应图在显示屏待检图像中确定漏光缺陷位置。利用本申请技术方案,能够高效地对显示屏幕的边缘微弱漏光进行检测,降低检测成本,提升显示屏幕的生产质量。

主权项:1.一种显示屏漏光检测方法,其特征在于,包括:获取显示屏待检图像;提取所述显示屏待检图像中的漏光检测区域,得到漏光区域检测图像;确定所述漏光区域检测图像中每一方形窗口区域内的灰度均值,并且将所述方形窗口区域的中心像素点的像素值更新为所述灰度均值,得到灰度均值响应图;所述方形窗口区域为边长大于或等于所述漏光检测区域宽度并且以在所述漏光区域检测图像中的像素点作为中心像素点所形成的窗口区域;在所述漏光区域检测图像中确定漏光区域中线轮廓框,并在所述灰度均值响应图中提取所述漏光区域中线轮廓框对应的像素点;基于预设像素比较范围和所述漏光区域中线轮廓框对应的像素点确定所述漏光区域中线轮廓框对应的像素点中的每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值,并且将每一像素点的灰度值更新为每一像素点的原始灰度值与其对应的最小灰度值之间的灰度差值,得到差值响应图;基于所述差值响应图在所述显示屏待检图像中确定漏光缺陷位置。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 高视科技(苏州)股份有限公司 显示屏漏光检测方法、电子设备及存储介质

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