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一种可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘及方法 

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申请/专利权人:苏州晶睿半导体科技有限公司

摘要:本发明涉及晶圆加工技术领域,具体地说,涉及一种可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘及方法。其包括外环以及设置在外环内部用于将晶圆吸附固定的承载台,所述承载台外圈与外环内圈之间形成活动腔;所述承载台内部为中空结构,其内部设置有可贯穿承载台顶部的顶动件;所述活动腔内设置有引导件,所述引导件以转动的方式设置在活动腔内;该可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘及方法中,通过利用气体的作用力驱动晶圆上移,使晶圆与承载台之前形成间隙,这样,气体经过晶圆外圈时,就能将晶圆外圈以及靠近外圈底部的水分带走,从而实现对晶圆多部位水分的清理。

主权项:1.一种可对多部位同时清理的半导体晶圆卡盘,包括外环(100)以及设置在外环(100)内部用于将晶圆(200)吸附固定的承载台(101),其特征在于:所述承载台(101)外圈与外环(100)内圈之间形成活动腔(102);所述承载台(101)内部为中空结构,其内部设置有可贯穿承载台(101)顶部的顶动件;所述活动腔(102)内设置有引导件(110),所述引导件(110)以转动的方式设置在活动腔(102)内;在气枪对晶圆(200)顶部吹风时,所述引导件(110)将晶圆(200)外圈的气体向下引导,以使气体经晶圆(200)外圈后作用于顶动件处;此时,所述顶动件利用气体的作用力驱动晶圆(200)上移,迫使晶圆(200)与承载台(101)之间产生间隙(201),气体经晶圆(200)外圈的过程中将晶圆(200)外圈的水分吹除,并使间隙(201)处形成负压区,同时将间隙(201)处的水分抽出。

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