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测试装置及其测试座 

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申请/专利权人:致茂电子(苏州)有限公司

摘要:一种测试装置及其测试座,测试装置包含一电路板及一测试座。电路板包含多个第一接点与第二接点。测试座包含一座体、一第一导接件、一第二导接件、多个第一伸缩探针及多个第二伸缩探针。第一导接件与第二导接件分别位于座体上,用以分别接触待测物的第一电极及第二电极。这些第一伸缩探针间隔分布于第一导接件上,电连接第一导接件,且分别接触第一接点。这些第二伸缩探针间隔分布于第二导接件上,电连接第二导接件,且分别接触第二接点。通过以上架构,本实用新型能够因应待测物的此些电极的高度起伏,让此些伸缩探针紧密接触电路板的此些接点,提高测试装置对于待测物的导电效率,从而让量测效果更为精准。

主权项:1.一种测试装置,其特征在于,包含:一电路板,包含多个第一接点与多个第二接点;以及一测试座,包含:一座体;一第一导接件,位于该座体上,用以接触一待测物的一第一电极;一第二导接件,位于该座体上,与该第一导接件实体分离,用以接触该待测物的一第二电极;多个第一伸缩探针,间隔分布于该第一导接件上,电连接该第一导接件,且分别接触所述多个第一接点;以及多个第二伸缩探针,间隔分布于该第二导接件上,电连接该第二导接件,且分别接触所述多个第二接点。

全文数据:

权利要求:

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