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申请/专利权人：海宁精奕电子有限公司
摘要：本实用新型提供了一种X射线源磁透镜磁场测量装置，属于X射线技术领域。一种X射线源磁透镜磁场测量装置，包括置物台，所述置物台一侧设有线圈垫块，所述线圈垫块上设有线圈，所述置物台另一侧开设有凹槽，所述凹槽内固定连接有滑轨，所述滑轨上滑动连接有滑块，所述滑块上固定连接有探针支撑板，所述探针支撑板上固定连接有探针支撑柱，所述探针支撑柱上滑动连接有探针支撑块，所述探针支撑块上开设有安装孔，所述安装孔上设有高斯计探针。本实用新型具有产生磁场的线圈放置在V型槽上，可以限制线圈转动，并通过限位架限制其前后移动；高斯计探针能够上下前后移动，对于每次测量通过刻度尺和刻度精确定位测量位置的优点。
主权项：1.一种X射线源磁透镜磁场测量装置，其特征在于，包括置物台2，所述置物台2一侧设有线圈垫块3，所述线圈垫块3上设有线圈4，所述置物台2另一侧开设有凹槽5，所述凹槽5内固定连接有滑轨6，所述滑轨6上滑动连接有滑块7，所述滑块7上固定连接有探针支撑板8，所述探针支撑板8上固定连接有探针支撑柱9，所述探针支撑柱9上滑动连接有探针支撑块10，所述探针支撑块10上开设有安装孔11，所述安装孔11上设有高斯计探针12。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 海宁精奕电子有限公司 一种X射线源磁透镜磁场测量装置
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