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申请/专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日：2024-04-01
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118242979A
主分类号：G01B11/00
分类号：G01B11/00;G01C25/00;G01C11/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本发明公开了一种水下线结构光测量工具的校正方法，水下线结构光测量工具包括相机、激光器、折射玻璃，包括以下步骤：在空气中标定获取相机内参、激光平面和相机激光器空间相对位置，其中，相机内参包括相机的水平和垂直焦距、图像原点相对于相机光心的水平和垂直偏移量，激光平面指的是激光器发射出的线激光平面，相机激光器空间相对位置指的是激光器在相机坐标系下的坐标；通过线结构光测量系统的相机采集水下图像数据，获取原始点云数据；通过对原始点云中每个点进行校正计算，得到水下物体的精准点云数据。使用该方法对水下物体进行测量，考虑了一定厚度玻璃和水介质折射率对测量的影响，可以获得水下物体的精确点云信息。
主权项：1.一种水下线结构光测量工具的校正方法，水下线结构光测量工具包括相机、激光器、折射玻璃，其特征在于，包括以下步骤：在空气中标定获取相机内参、激光平面和相机激光器空间相对位置，其中，相机内参包括相机的水平和垂直焦距、图像原点相对于相机光心的水平和垂直偏移量，激光平面指的是激光器发射出的线激光平面，相机激光器空间相对位置指的是激光器在相机坐标系下的坐标；通过线结构光测量系统的相机采集水下图像数据，获取原始点云数据；通过对原始点云中每个点进行校正计算，得到水下物体的精准点云数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院光电技术研究所 水下线结构光测量工具的校正方法
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