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申请/专利权人：中国石油大学(华东);北京安泰信科技有限公司;恩迪检测技术(青岛)有限公司

摘要：本发明属于无损检测缺陷检出评估技术领域，尤其涉及一种基于裂纹双参数的ACFM检出概率计算方法。该ACFM检出概率计算方法通过探究缺陷检测特征信号响应间的关系，为裂纹ACFM检测结果可靠性评估提供了理论支撑。该基于裂纹双参数的ACFM检出概率计算方法包括有如下步骤：提取特征信号Bx的波谷深度数值Rsx、特征信号Bz的波峰波谷高度差Rsz；计算Rsx和Rsz的二维高斯分布概率密度函数px；得到多个不同尺寸裂纹的ACFM检出概率POD（Li，Dj）；拟合得到连续的多个不同尺寸裂纹的POD值；求解参数集Θ中各参数的最优解；得到基于裂纹长度和裂纹深度双参数的ACFM检出概率POD的曲面函数。

主权项：1.一种基于裂纹双参数的ACFM检出概率计算方法，其特征在于，包括有如下步骤：步骤一：使用ACFM检测技术对试件上的任意一处裂纹进行多次扫查检测；提取其特征信号Bx的波谷深度数值Rsx、特征信号Bz的波峰波谷高度差Rsz；步骤二：根据步骤一使用ACFM检测技术对试件上的任意一处裂纹进行多次扫查检测后提取得到的特征信号Bx的波谷深度数值Rsx、特征信号Bz的波峰波谷高度差Rsz的分布情况，计算得到Rsx和Rsz的二维高斯分布概率密度函数px，满足：；式中，μ1为对试件上的任意一处裂纹进行多次扫查检测获取得到的Rsx的均值，μ2为对试件上的任意一处裂纹进行多次扫查检测获取得到的Rsz的均值，σ为特征信号的响应信号标准差，ρ为相关系数；变量x1、x2表示特征信号的响应信号；步骤三：使用ACFM检测技术对试件上不同尺寸的多个裂纹进行多次扫查检测，得到多个不同尺寸裂纹的ACFM检出概率POD（Li，Dj），满足：；式中，L为多个不同尺寸裂纹的长度集合，D为多个不同尺寸裂纹的深度集合，F表示多个不同尺寸裂纹中长度为Li、深度为Dj的裂纹，F1、F2分别为Rsx和Rsz的积分变量，pF|L=Li,D=Dj表示长度为Li、深度为Dj的裂纹的二维高斯分布概率密度函数；步骤四：从多个不同尺寸裂纹的ACFM检出概率POD（Li，Dj）中计算得到多组离散的多个不同尺寸裂纹的POD值；定义双参数曲面函数podL,D;Θ；其中，双参数曲面函数podL,D;Θ，满足：；式中，Θ表示双参数曲面函数中涉及的未知参数的集合，即Θ={αp，ζp，γp，εp，βp，δp}；采用广义逻辑函数，将离散的多个不同尺寸裂纹的POD值拟合为连续的多个不同尺寸裂纹的POD值；步骤五：求解参数集Θ中各参数的最优解；所述参数集Θ中各参数的最优解用于使得由离散的多个不同尺寸裂纹的POD值计算得到的连续的多个不同尺寸裂纹的POD值达到最优解；步骤六：将步骤五求解得到Θ中各参数的最优解，代入双参数曲面函数podL,D;Θ，得到基于裂纹长度和裂纹深度双参数的ACFM检出概率POD的曲面函数。

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百度查询： 中国石油大学(华东) 北京安泰信科技有限公司 恩迪检测技术(青岛)有限公司 一种基于裂纹双参数的ACFM检出概率计算方法