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申请/专利权人：清华大学
摘要：本发明涉及特高压直流输电设备状态评估、绝缘微缺陷检测技术领域，特别涉及一种GISGIL微缺陷离线检测方法及装置，其中，方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并将测试交流电的电压作为触发源触发待测绝缘件试样，以诱发待测绝缘件试样的电致发光信息；基于电致发光信息，利用光子计算探头测量预设时间段内待测绝缘件试样的光子计数数据；根据光子计数数据判断待测绝缘件试样是否存在缺陷。由此，解决了传统的GISGIL缺陷检测方法多以局放相关技术实现，受现场电磁、震动噪声干扰且不能识别内部达不到放电条件，难以满足GISGIL缺陷高精度检测的要求等问题。
主权项：1.一种GISGIL微缺陷离线检测方法，其特征在于，包括以下步骤：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并将所述测试交流电的电压作为触发源触发所述待测绝缘件试样，以诱发所述待测绝缘件试样的电致发光信息；基于所述电致发光信息，利用光子计算探头测量预设时间段内所述待测绝缘件试样的光子计数数据；根据所述光子计数数据判断所述待测绝缘件试样是否存在缺陷。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 清华大学 GIS/GIL微缺陷离线检测方法及装置
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