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申请/专利权人：汕头华汕电子器件有限公司
摘要：本实用新型提供一种半导体成品变形检测装置，具有量具，所述量具的一面下凹形成一个能够嵌入待测半导体器件的限位槽，量具中开设有贯穿量具前后面的观测圆孔窗口及观测散热板窗口，观测圆孔窗口与观测散热板窗口于限位槽中居中设置，且观测圆孔窗口位于观测散热板窗口的正上方。本实用新型以半导体器件的外形尺寸为基准，以半导体器件出厂规范作为检验标准尺寸所设计的量具，可以通过观测圆孔窗口与观测散热板窗口对待测半导体器件进行检测，判断其是否符合出厂标准，其操作简单，可以实现快速高效检验。
主权项：1.一种半导体成品变形检测装置，其特征在于：具有量具（1），所述量具（1）的一面下凹形成一个能够嵌入待测半导体器件的限位槽（10），量具（1）中开设有贯穿量具（1）前后面的观测圆孔窗口（11）及观测散热板窗口（12）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 汕头华汕电子器件有限公司 一种半导体成品变形检测装置
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