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一种多工位AOI检测设备 

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申请/专利权人:泰州芯源半导体科技有限公司

摘要:本实用新型公开了一种多工位AOI检测设备,其包括:工作台,所述工作台的顶部设置有检测组件,所述检测组件的顶部设置有检测罩组件,所述工作台的底部固定连接有支柱;所述检测组件包括工位台、分隔条、主动盘、大转块、小转柱、转盘、限位槽、转动槽和主电机,所述工位台的顶部固定连接有分隔条,所述工位台的底部设置有主动盘和转盘。通过设置工位台、分隔条、主动盘、大转块、小转柱、转盘、限位槽、转动槽和主电机,将产品放置在工位台上,并通过主动盘上大转块与小转柱配合转盘上的限位槽和转动槽,使工位台进行间歇性旋转位移,可在一起进行多种工艺检测,提高检测效率,降低生产成本,缩减设备空间。

主权项:1.一种多工位AOI检测设备,包括:工作台(1),其特征在于,所述工作台(1)的顶部设置有检测组件(2),所述检测组件(2)的顶部设置有检测罩组件(3),所述工作台(1)的底部固定连接有支柱(4);所述检测组件(2)包括工位台(201)、分隔条(202)、主动盘(203)、大转块(204)、小转柱(205)、转盘(206)、限位槽(207)、转动槽(208)和主电机(209),所述工位台(201)的顶部固定连接有分隔条(202),所述工位台(201)的底部设置有主动盘(203)和转盘(206),所述主动盘(203)的顶部固定连接有大转块(204)和小转柱(205),所述大转块(204)为半圆形,所述大转块(204)与小转柱(205)左右相对设置在主动盘(203)上,所述转盘(206)上设置有限位槽(207)和转动槽(208),所述限位槽(207)呈半圆形,所述小转柱(205)位于转动槽(208)的内部,所述大转块(204)位于限位槽(207)的内部,所述工作台(1)的底部固定连接有主电机(209),所述主电机(209)的顶部输出端贯穿工作台(1)与转盘(206)固定连接,所述工位台(201)的底部与转盘(206)固定连接,所述转盘(206)的底部与工作台(1)转动连接。

全文数据:

权利要求:

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