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一种X射线影像深度探测方法 

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申请/专利权人:汕头市超声仪器研究所股份有限公司

摘要:本发明涉及X射线摄影成像技术领域,尤其涉及一种X射线影像深度探测方法。采用如下技术方案:先对待测物体进行X射线成像,得到待测物体的X射线平面图像,接着在X射线平面图像中选定感兴趣区域的中心点,并在中心点的正上方附近利用超声探头进行超声检测,直到超声探头接收到超过设定幅值的强回波,根据接收到强回波的时间计算产生强回波位置与超声探头之间的距离,最后根据超声探头的扫查平面与X射线平面图像之间的夹角计算感兴趣区域的深度。有益效果在于:可实现对X射线影像中感兴趣区域深度的快速探测,不仅无需复杂的操作,同时无需大量的计算,便于对X射线影像中感兴趣区域的深度进行快速定位,提高检测效率。

主权项:1.一种X射线影像深度探测方法,其特征在于:先对待测物体进行X射线成像,得到待测物体的X射线平面图像,接着在X射线平面图像中选定感兴趣区域的中心点,并在中心点的正上方附近利用超声探头进行超声检测,直到超声探头接收到超过设定幅值的强回波,根据接收到强回波的时间计算产生强回波位置与超声探头之间的距离,最后根据超声探头的扫查平面与X射线平面图像之间的夹角计算感兴趣区域的深度。

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权利要求:

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