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申请/专利权人：北京杰福科技有限公司
摘要：本发明公开了一种副像偏离值测量方法及测量装置。副像偏离值测量方法包括如下步骤：控制光源照射待测玻璃上的待测区域；控制第一图像获取设备获取待测区域的第一图像，根据第一图像调整光源位置直至照射到待测区域内的待测点；控制第二图像获取设备与光源随动，获取待测区域的第二图像，根据第二图像上对应待测点产生的主像和副像计算待测玻璃的副像偏离值。
主权项：1.一种副像偏离值测量方法，其特征在于，包括如下步骤：控制光源发出检测光线照射待测玻璃上的待测区域；控制第一图像获取设备获取待测区域的第一图像，根据第一图像调整光源位置直至照射到待测区域内的待测点；控制第二图像获取设备与光源随动，获取待测区域的第二图像，根据第二图像上对应待测点产生的主像和副像计算待测玻璃的副像偏离值。
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百度查询： 北京杰福科技有限公司 副像偏离值测量方法及测量装置
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