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III-N-硅半导体晶片 

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申请/专利权人:阿聚尔斯佩西太阳能有限责任公司

摘要:一种III‑N‑硅半导体晶片,所述III‑N‑硅半导体晶片具有上部层区域和下部层区域,该上部层区域具有上侧,该下部层区域具有下侧,其中,该上部层区域具有氮化物层,该氮化物层具有构造的III‑N层,该下部层区域包括硅层或者由硅层构成,该半导体晶片具有至少1.2mm的总厚度并且片状地构造,该半导体晶片沿着总厚度被划分为上部层区域和下部层区域,该上部层区域具有环绕的边缘区域,该上部层区域具有至少145mm的第一最大直径,该上部层区域具有大于30μm且小于950μm的厚度,该下部层区域具有第二最大直径,在上部层区域与下部层区域之间构造有附接区域,其中,该附接区域具有第三直径。

主权项:1.III-N-硅半导体晶片10,所述III-N-硅半导体晶片具有上部层区域OSB和下部层区域USB,所述上部层区域具有上侧OS,所述下部层区域具有下侧US,其中,所述上部层区域OSB包括氮化物层NSB,所述氮化物层具有构造的III-N层,所述下部层区域USB包括硅层SIS或者由硅层构成,所述半导体晶片10具有至少1.2mm的总厚度GD并且片状地构造,所述半导体晶片10沿着所述总厚度GD被划分为所述上部层区域OSB和所述下部层区域USB,所述上部层区域OSB具有环绕的边缘区域RB,所述上部层区域OSB具有至少145mm的第一最大直径DM1,并且所述上部层区域OSB具有大于30μm且小于950μm的厚度,所述下部层区域USB具有第二最大直径DM2,在所述上部层区域OSB与所述下部层区域USB之间构造有附接区域ASB,其中,所述附接区域ASB具有第三直径并且所述第三直径小于所述第一最大直径DM1,所述第三直径构造为小于所述第二最大直径DM2或者等于所述第二最大直径DM2,所述第一最大直径DM1相应于所述第二最大直径DM2或者所述第一最大直径DM1构造为与所述第二最大直径DM2不同。

全文数据:

权利要求:

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