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申请/专利权人：五邑大学
摘要：本申请提出的一种高速光耦测试电路，包括测试主模块和可拆卸测试模块，测试主模块设置有脉冲信号输出端、非浮动电源输出端和连接引脚，可拆卸测试模块设置有连接插口、高速光耦安装器件和输出测试接口。利用测试主模块与可拆卸测试模块，可完成高速光耦性能测试，通过可拆卸测试模块简化高速光耦测试电路，去除冗余部分，满足企业对测试的基本需求，降低成本，同时可拆卸测试模块体积小使得测试设备更加方便灵巧，增强实用性，可拆卸测试模块中的高速光耦安装器件可以安装不同型号的高速光耦，使得高速光耦测试电路能够测试多种类的高速光耦。
主权项：1.一种高速光耦测试电路，其特征在于，所述光耦测试电路包括：测试主模块和可拆卸测试模块；其中，所述测试主模块设置有脉冲信号输出端、非浮动电源输出端和连接引脚，所述脉冲信号输出端用于输出高压共模脉冲信号，所述非浮动电源输出端用于输出非浮动电源信号；所述可拆卸测试模块设置有连接插口、高速光耦安装器件和输出测试接口，所述可拆卸测试模块通过所述连接插口与所述测试主模块的所述连接引脚可拆卸连接，所述高速光耦安装器件用于接入高速光耦，所述输出测试接口用于输出所述高速光耦导通时的波形信号；所述高压共模脉冲信号和所述非浮动电源信号经所述可拆卸测试模块输出到所述高速光耦。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 五邑大学 高速光耦测试电路、电路板及装置
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