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申请/专利权人：杭州长川科技股份有限公司
摘要：本申请涉及一种电压波形图的绘制方法、芯片测试系统、装置及可读介质，所述方法包括：获取被测芯片的待测管脚集合、测试周期序列，以及测试周期序列中的每个测试周期的时间长度和采样点数；基于时间长度和采样点数，确定每个待测管脚在各测试周期内的各采样点所对应的采样时刻；基于采样点数依次对被测芯片执行测试项，在每次执行过程中基于采样点对应的采样时刻，获取各采样点对应的采样电压，并基于采样电压绘制对应的电压点，直至所述采样点对应的采样电压全部获取并绘制完成，得到各待测管脚在测试周期序列中的电压波形图，解决了芯片测试过程中芯片管脚电压波形显示速度慢的问题。
主权项：1.一种电压波形图的绘制方法，其特征在于，所述方法包括：获取被测芯片的待测管脚集合、测试周期序列，以及所述测试周期序列中的每个测试周期的时间长度和采样点数，所述待测管脚集合包括至少一个待测管脚，所述测试周期序列包括至少一个测试周期；基于所述时间长度和采样点数，确定每个所述待测管脚在各所述测试周期内的各采样点所对应的采样时刻；基于各所述测试周期内的采样点数，依次对所述被测芯片执行所述测试项，在每次执行过程中基于所述采样点对应的采样时刻，获取各所述待测管脚的各所述测试周期中的各所述采样点对应的采样电压，并基于所述采样电压绘制对应的电压点，直至所述采样点数对应的采样电压全部获取并绘制完成，得到各所述待测管脚在所述测试周期序列中的电压波形图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州长川科技股份有限公司 电压波形图的绘制方法、芯片测试系统、装置及可读介质
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