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申请/专利权人：西安紫光展锐科技有限公司
摘要：本申请实施例提供一种芯片测试方法、装置及测试设备。该方法包括：响应于芯片插设至测试设备，获取所述芯片对应的历史运行日志；根据所述历史运行日志，确定所述芯片对应的待测试功能；在所述测试设备中确定所述待测试功能对应的应用程序，并通过所述应用程序对所述待测试功能进行测试，得到所述芯片对应的测试结果。提高了确定故障原因的效率。
主权项：1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：响应于芯片插设至测试设备，获取所述芯片对应的历史运行日志；根据所述历史运行日志，确定所述芯片对应的待测试功能；在所述测试设备中确定所述待测试功能对应的应用程序，并通过所述应用程序对所述待测试功能进行测试，得到所述芯片对应的测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安紫光展锐科技有限公司 芯片测试方法、装置及测试设备
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