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申请/专利权人：广东鸿浩半导体设备有限公司
摘要：本发明提供了一种表面缺陷检测方法，该检测方法包括：获取待检测物图像，并将所述待检测物图像输入预先训练好的的神经网络模型中，得到记载有检测分数的多个检测框；将所述多个检测框记载的检测分数分别映射到二维数组内；利用预先拟合的检测分数转RGB多项式回归公式，将所述二维数组记载的各检测分数映射为三维RGB数值；根据所述三维RGB值生成热力图，将所述热力图叠加到所述待检测物图像上，以展示热力图内显示的异常点。本发明表面缺陷检测方法,利用二维检测分数转三维RGB多项式回归公式将带有检测分数的二维数组重新映射为三维数组RGB数值，据此生成热力图，以便于直观快速且准确的判断出待检测物中的异常点位。
主权项：1.一种表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取待检测物图像，并将所述待检测物图像输入预先训练好的的神经网络模型中，得到记载有检测分数的多个检测框；将所述多个检测框记载的检测分数分别映射到二维数组内；将所述检测分数进行拟合，再将拟合的检测分数转RGB多项式回归公式；利用所述检测分数转RGB多项式回归公式将所述二维数组记载的各检测分数映射为三维RGB数值；根据所述三维RGB数值生成热力图，将所述热力图叠加到所述待检测物图像上，以展示热力图内显示的异常点。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 广东鸿浩半导体设备有限公司 一种表面缺陷检测方法
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