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界面关系判断方法及装置 

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申请/专利权人:广东省材料与加工研究所

摘要:本发明提供一种界面关系判断方法及装置,该方法包括:获取两相晶体结构;根据两相晶体结构选取两相晶面;根据两相晶面计算界面错配度;根据界面错配度判断界面关系。本发明通过获取两相晶体结构,选取两相晶面,根据错配度计算公式计算错配度,从而判断两相界面关系。

主权项:1.一种界面关系判断方法,其特征在于,包括:根据两相材料类型获取两相晶体结构;根据所述两相晶体结构选取两相晶面;根据所述两相晶面计算界面错配度;根据所述界面错配度和预设阈值判断界面关系;其中,所述根据所述两相晶面计算界面错配度,包括:根据所述两相晶面选取两相晶向;根据所述两相晶向计算两相对应晶向原子间距和两相对应晶向原子夹角;根据所述两相对应晶向原子间距和所述两相对应晶向原子夹角,计算界面错配度;当两相晶体结构分别为铜和γ-铁晶体结构时,所述根据所述两相对应晶向原子间距和所述两相对应晶向原子夹角,计算界面错配度的步骤包括:判断两相晶体类型,根据两相对应晶向原子间距和两相对应晶向原子夹角,获取基底相对应晶向原子间距、形核相对应晶向原子间距,以及基底相和形核相对应晶向原子夹角,计算得到界面错配度,界面错配度计算公式如下所示: 式中,为界面错配度;hkls为基底相晶面;hkln为形核相晶面;[uvw]s为hkls晶面上的晶向;[uvw]n为hkln晶面上的晶向;为基底相沿[uvw]s晶向原子间距;为形核相沿[uvw]n晶向原子间距;θi为[uvw]s晶向和[uvw]n晶向原子夹角;或者,当两相晶体结构分别为铜和钨晶体结构时,所述根据所述两相对应晶向原子间距和所述两相对应晶向原子夹角,计算界面错配度的步骤包括界面错配度采用如下所示的计算公式: 式中,σ为界面错配度;ai为α相原子间距;bj为β相原子间距;θi为α相和β相对应晶向原子夹角;或者,当两相晶体结构分别为三氧化二铈和γ-铁晶体结构时,所述根据所述两相对应晶向原子间距和所述两相对应晶向原子夹角,计算界面错配度的步骤包括:根据两相对应晶向原子间距,获取对角边晶向错配度;根据两相对应晶向原子间距和两相对应晶向原子夹角,获取两边晶向错配度;根据对角边晶向错配度和两边晶向错配度,获取界面错配度,界面错配度计算公式如下所示:对角边晶向错配度: 两边晶向错配度: 平均错配度: 式中,σ为界面错配度;dα1为α相对角边晶向原子间距;dβ1为β相对角边晶向原子间距;dαi为α相两边晶向原子间距;dβi为β相对角边晶向原子间距;θi为两相两边晶向原子夹角。

全文数据:

权利要求:

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