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申请/专利权人：广州广合科技股份有限公司

摘要：本发明属于AOI检测技术领域，公开了一种AOI快速检测方法及快速检测系统，包括利用AOI设备进行扫描检测获取灰阶实物图，并通过调整阈值将获取的图像进行二值化处理，确定PCB的疑似缺陷；采用离线复检过滤部分假缺陷；利用VT复检机对过滤后疑似缺陷进行真假缺陷确定。本发明减少了误测，提高昂贵的AOI设备的生产效率，节约生产成本和检测时间。本发明针对不同产品的表面的基材与金属的反光敏感度不同，合理调整阈值，尽可能的将灰度值的th分界达到理想值，可以有效的减少误报并且还可以减少设备漏失。本发明进行离线复检可以将一些假缺陷过滤，给VT复检机节省了大量的时间，理论上可以提高6倍效率。

主权项：1.一种AOI快速检测方法，其特征在于，所述AOI快速检测方法包括以下步骤：步骤一，利用AOI设备进行扫描检测获取灰阶实物图，并通过调整阈值将获取的图像进行二值化处理，确定PCB的疑似缺陷；步骤二，采用离线复检过滤部分假缺陷；利用VT复检机对过滤后疑似缺陷进行真假缺陷确定；所述利用AOI设备进行扫描检测获取灰阶实物图之后还需进行：1）接收得到的灰阶实物图，统计所述灰阶实物图各像素点灰阶亮度值得到灰阶亮度值的直方图；2）根据所述直方图中灰阶亮度值的分布特性，将灰阶亮度值分为多个灰阶亮度值区间；3）对灰阶亮度值落入第一类亮度区间内的像素点，采用一个补偿曲线对应增益值进行灰阶亮度补偿；4）对灰阶亮度值落入第二类亮度区间内的像素点，采用其相邻所述第一类亮度区间对应二个补偿曲线对应增益值分别进行灰阶亮度补偿；所述灰阶亮度值区间包括第一类亮度区间和位于所述第一类亮度区间之间的第二类亮度区间，第一类亮度区间和第二类亮度区间存在公共端点；步骤一中，所述利用AOI设备进行扫描检测获取灰阶实物图包括以下步骤：（1）利用摄像头对PCB的图像进行多次间断拍摄，间断的时间保证相邻拍摄的图像有重叠区域；（2）对拍摄得到的图像在尺度空间进行特征检测，并确定关键点的位置和关键点所处的尺度；（3）使用关键点邻域梯度的主方向作为关键点的方向特征，从多幅待匹配图像中提取出对尺度缩放旋转亮度变化无关的特征向量并进行匹配；（4）采用RANSAC算法进行匹配点对提纯，采用L-M算法优化计算透视矩阵；（5）根据图像间透视矩阵，对相应的图像进行交换以确定图像间的重叠区域，并将待融合的图像注册到一幅新的空白图像中形成拼接图；（6）对拼接图像进行垂直投影消除元件左右阴影和粘连；对拼接图像进行水平投影消除元件前后阴影和粘连；采用灰阶临界值将拼接图像转化为灰阶实物图；步骤一中，基于不同产品的表面基材与金属的反光敏感度不同进行阈值调整包括：降低基材的阈值，提高金属的阈值；步骤二中，所述采用离线复检过滤部分假缺陷包括：获取确定的疑似缺陷，基于预设缺陷过滤规则，进行真假缺陷判断，并删除假缺陷；所述缺陷过滤规则如下：当疑似缺陷为铜面或线路上呈现缓和均匀的下陷或呈现断层或边缘的整齐下降时，则判定缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为铜出现小面积氧化时，则判定疑似缺陷为假缺陷；当疑似缺陷为机械外力造成的铜面或线路破坏损伤导致的露铜时，则判断疑似缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为残铜即线与线、铜皮、PAD之间，铜皮与铜皮、PAD之间，PAD与PAD之间的铜未蚀刻干净时，则判断疑似缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为夹膜时，则判断疑似缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为孔内存在杂物时，则判断疑似缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为铜箔起皱时，则判断疑似缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为线路损伤错位时，则判断疑似缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为线幼时，则判断疑似缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为铜面破洞时，则判断疑似缺陷为假缺陷；当疑似缺陷为塞孔不完全，不够饱满，或者漏塞了一部分孔时，则判断疑似缺陷为真缺陷；当疑似缺陷为孔内有铜丝时，则判断疑似缺陷为真缺陷。

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