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申请/专利权人：深圳市创马优精密电子有限公司

摘要：本申请涉及电信号分析技术领域，具体涉及一种PCBA控制板测试方法及系统，该方法包括：获取各测试点的窗口电压序列和电位变化周期序列；在每个时间窗口的各电位变化周期序列中，计算每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数；根据所有电位变化周期序列的点位突变系数以及电压与控制板高低电位之间的差异情况构建每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数；计算每个窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定指数，完成对PCBA控制板的测试。本申请通过分析控制板测试点波形失真情况以及失真特性，判定波形失真是由设计缺陷或外在因素波动引起的，最终实现对PCBA控制板的高精度检测。

主权项：1.一种PCBA控制板测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：在PCBA控制板上，获取各测试点在各采集时刻的电压数字信号，按照时间升序组成各测试点的电压序列；通过时间窗口将各测试点的电压序列均划分为多个窗口电压序列；根据窗口电压序列中电压变化趋势结合回归算法得到电位图；在每个窗口电压序列中，根据电位图中的电位走势和电压分布情况获取每个时间窗口的各电位变化周期序列；根据电压变化的快慢程度构建每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数；在各测试点中，获取控制板高低电位，根据所有电位变化周期序列的点位突变系数以及电压与控制板高低电位之间的差异情况构建每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数；以各测试点为中心设置对比测试点，在各测试点与其对比测试点的同一时间窗口内的窗口电压序列中，根据点位失真紊乱系数之间的差异以及测试点之间的差异构建每个窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定指数；根据各测试点中所有窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定指数得到各测试点的布线缺陷系数；结合各测试点的布线缺陷系数获取PCBA控制板测试结果；所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数的构建过程为：在每个窗口电压序列中，根据各电位变化周期序列得到每个时间窗口的各电位变化周期序列的第一、二、三及四子序列；将第二子序列中电压最大值与电压最小值的差值取绝对值，记为上升电位绝对值；计算第二子序列中电压最大值和最小值的采集时刻的差值，记为上升电位变化时差；计算上升电位变化时差和上升电位绝对值的比值，记为各电位变化周期序列的第一变化值；在第四子序列中，按照所述第一变化值的构建方法得到第二变化值；计算第一变化值与第二变化值的加权和，记为各电位变化周期序列的特征变化值；计算第二子序列与第四子序列之间的距离，记为各电位变化周期序列的相隔距离；所述特征变化值和所述相隔距离均与所述每个时间窗口的各电位变化周期序列的点位突变系数成正向关联；所述每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数的构建过程为：在每个窗口电压序列的各电位变化周期序列中，将第一子序列中各采集时刻的电压值与控制板低电位的差值取绝对值，记为低电位参考绝对值；计算所有采集时刻的低电位参考绝对值的标准差，记为各电位变化周期序列的第一残差值；将第三子序列中各采集时刻的电压值与控制板高电位的差值取绝对值，记为高电位参考绝对值；计算所有采集时刻的高电位参考绝对值的标准差，记为各电位变化周期序列的第二残差值；将所述第一残差值与第二残差值的加权结果与点位突变系数的和值，记为各电位变化周期序列的失真紊乱值；每个窗口电压序列的点位失真紊乱系数与每个窗口电压序列的各电位变化周期序列的失真紊乱值成正向关联；所述控制板耦合缺陷判定指数的构建过程为：在各测试点的同一时间窗口的窗口电压序列中，根据所有电位变化周期序列中第一子序列和第三子序列中电压差异情况获取每个窗口电压序列的协同变化序列；基于各测试点与其余测试点中任一测试点在同一时间窗口中，计算两个窗口电压序列的点位失真紊乱系数之间的差异，记为失真权重；计算两个窗口电压序列的协同变化序列之间的距离，记为相似度量结果；将失真权重与相似度量结果的比值作为每个窗口电压序列的突发性失真系数；每个窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定指数分别与所述突发性失真系数和点位失真紊乱系数成正向关联；所述各测试点的布线缺陷系数为所有窗口电压序列的控制板耦合缺陷判定指数的均值的归一化结果。

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