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使用共有文库进行样品分析的技术 

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申请/专利权人:沃特世科技爱尔兰有限公司

摘要:本发明描述了用于生成样品基质的共有文库流程A并使用共有文库来确定样品的未知‑未识别组分流程B的技术和装置。例如,在一个实施方案中,一种装置可包括至少一个存储器以及联接到所述至少一个存储器的处理电路220,其中所述处理电路适于接收经由所述样品基质的质量分析生成的样品基质的多个样品基质数据集210a至210n并基于所述多个样品基质数据集生成样品基质的共有文库220,该共有文库包含样品基质的多种已知‑未识别组分。

主权项:1.一种装置,所述装置包括:至少一个存储器;和逻辑,所述逻辑联接到所述至少一个存储器,所述逻辑用于:接收经由样品基质的质量分析生成的样品基质的多个样品基质数据集,以及基于所述多个样品基质数据集生成所述样品基质的共有文库,所述共有文库包含所述样品基质的多种已知-未识别组分,所述已知-未识别组分为具有不确定结构但已知在各种条件下来自样品基质的组分;其中所述逻辑将已知-未识别组分包括在所述共有文库的所述多种已知-未识别组分中,以响应具有超过阈值的组分特性的所述已知-未识别组分,所述阈值包括最小浓度、最小发生率或质量准确度中的至少一项。

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权利要求:

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