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申请/专利权人：隔空微电子(深圳)有限公司

摘要：本申请提供时间交织ADC采样时间适配的校准方法、系统、介质及校准器，所述方法包括：接收采样同一个输入信号的多路子通道的失配延时；其中，同一采样周期内的第一路子通道为不需要校准的参考通道，其余各路子通道的失配延时基于参考通道估计得到；接收由多路选择器依次发送而来的当前被选中的待校准子通道的采样信号；使用线性插值算法并基于待校准子通道所对应的失配延时，计算所述待校准子通道的采样信号的校准斜率；基于校准斜率及延时校准系数得到待校准子通道输出的校准后的采样信号。本申请不存在输入信号带宽较窄或受限于子通道的采样率问题，硬件实现简约，对于低频输入信号有优秀的干扰抑制效果，对于高频输入信号有不错的干扰抑制效果。

主权项：1.一种时间交织ADC采样时间适配的校准方法，其特征在于，包括：接收采样同一个输入信号的多路子通道的失配延时；其中，同一采样周期内的第一路子通道为不需要校准的参考通道，其余各路子通道的失配延时基于所述参考通道估计得到；所述失配延时以采样点为单位，将延时时间与采样周期的比值作为所述失配延时；接收由多路选择器依次发送而来的当前被选中的待校准子通道的采样信号；使用线性插值算法并基于待校准子通道所对应的失配延时，计算所述待校准子通道的采样信号的校准斜率；其包括：分别求取待校准子通道的前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率；求取所述前一通道和后一通道的采样信号的线性斜率的特征值作为所述校准斜率；基于所述校准斜率及延时校准系数计算得到所述待校准子通道输出的校准后的采样信号，包括：kn＝xn-xn-11+dn-dn-1；kn+1＝xn+1-xn1+dn+1-dn；yn＝xn-a*dn*kn+kn+12；其中，a表示延时校准系数；xn表示当前待校准子通道的输入信号；xn-1表示当前待校准子通道的前一个子通道的输入信号；xn+1表示当前待校准子通道的后一个子通道的输入信号，若xn为当前采样周期中最后一路子通道的输入信号，则xn+1为下一个采样周期中第一路子通道的输入信号；dn表示当前待校准子通道的失配延时；dn-1表示当前待校准子通道的前一个子通道的失配延时；dn+1表示当前待校准子通道的后一个子通道的失配延时；kn表示子通道xn-1与子通道xn之间的斜率；kn+1表示子通道xn+1与子通道xn之间的斜率；yn表示当前待校准子通道的校准后的输出信号。

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