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申请/专利权人:杭州长川科技股份有限公司
摘要:本申请涉及一种芯片内部比较器阈值校准方法、系统和计算机程序产品。该方法包括:将各待校准阈值配置到各芯片,待校准阈值用于得到各芯片中的各通道中的内部比较器的第一输入端的输入值;将目标源初始值配置到目标源,指示目标源生成目标信号,作为各芯片内部比较器的第二输入端的输入值;并行分别获取各通道中的芯片内部比较器的输出状态;按照扫描步长及第一更新方向对目标信号进行更新,更新后的目标信号用于输入至各通道中的芯片内部比较器的第二输入端;在芯片内部比较器的输出状态发生跳变时,记录第一跳变时刻对应的目标信号及待校准阈值的第一关联关系;将第一关联关系作为校准信息。采用本方法能够保证校准精度且提高校准效率。
主权项:1.一种芯片内部比较器阈值校准方法,其特征在于,应用于并行校准模块,所述方法包括:将各待校准阈值配置到各芯片,所述待校准阈值用于得到所述芯片中各通道中的内部比较器的第一输入端的输入值;将目标源初始值配置到目标源,以指示所述目标源生成目标信号,所述目标信号为各所述芯片内部比较器的第二输入端的输入值;并行分别获取各所述通道中的所述芯片内部比较器的输出状态;按照扫描步长以及第一更新方向对所述目标信号进行更新,更新后的所述目标信号用于输入至各所述通道中的所述芯片内部比较器的第二输入端;在所述芯片内部比较器的输出状态发生跳变时,记录第一跳变时刻对应的所述目标信号以及所述待校准阈值的第一关联关系;将所述第一关联关系作为校准信息。
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