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申请/专利权人：深圳市华怡丰科技有限公司
摘要：一种激光测距方法和激光测距设备。在该方法中，通过确定与检测幅值最高的主照像素点相邻的两个像素点的检测幅值的变化率，再结合该变化率和该主照像素点对应的距离值确定被测物体的实际距离，使得反射主光线照射在像素间距上时，也能得到更高精度的实际距离，从而提升了激光测距设备的测量精度。
主权项：1.一种激光测距方法，其特征在于，包括：在对第一物体进行测距的过程中，获取主照像素点的主照射幅值、第一像素点的第一检测幅值和第二像素点的第二检测幅值；在所述第一检测幅值大于所述第二检测幅值的情况下，基于所述主照射幅值、所述第一检测幅值和所述第二检测幅值，确定幅值变化率；所述幅值变化率用于反映反射主光线照射在所述第一像素点和所述主照像素点的像素间距间的位置，所述反射主光线为测量所述第一物体的距离时发射的激光的主反射光线；基于所述幅值变化率、所述主照像素点对应的主标定距离值以及所述第一像素点对应的第一标定距离值，确定所述第一物体的实际距离值；其中，所述主照像素点为所述接收传感器上检测到的幅值最高的像素点，所述第一像素点为所述接收传感器上向标定距离增大方向与所述主照像素点相邻的像素点，所述第二像素点为所述接收传感器上向标定距离减小方向与所述主照像素点相邻的像素点。
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百度查询： 深圳市华怡丰科技有限公司 一种激光测距方法和激光测距设备
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