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一种氮化镓基高电子迁移率晶体管及半导体器件 

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申请/专利权人:中国科学院微电子研究所

摘要:本发明公开了一种氮化镓基高电子迁移率晶体管及半导体器件,涉及半导体技术领域,用于提升氮化镓基高电子迁移率晶体管的抗单粒子烧毁能力。所述氮化镓基高电子迁移率晶体管包括衬底、缓冲层、沟道层、势垒层、栅极、源极、漏极和N型电场调节层。沿衬底的厚度方向,缓冲层、沟道层和势垒层依次层叠设置于衬底上。栅极形成在势垒层上。源极和漏极间隔设置在栅极的两侧。源极至少贯穿势垒层,漏极贯穿势垒层、沟道层和至少部分缓冲层。N型电场调节层设置在缓冲层内,N型电场调节层的材料不同于缓冲层的材料、且N型电场调节层与漏极接触。本发明提供的半导体器件包括上述氮化镓基高电子迁移率晶体管。

主权项:1.一种氮化镓基高电子迁移率晶体管,其特征在于,包括:衬底;沿所述衬底的厚度方向,依次层叠设置于所述衬底上的缓冲层、沟道层和势垒层;形成在所述势垒层上的栅极;间隔设置在所述栅极两侧的源极和漏极;所述源极至少贯穿所述势垒层,所述漏极贯穿所述势垒层、所述沟道层和至少部分所述缓冲层;设置在所述缓冲层内的N型电场调节层,所述N型电场调节层的材料不同于所述缓冲层的材料、且所述N型电场调节层与所述漏极接触。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院微电子研究所 一种氮化镓基高电子迁移率晶体管及半导体器件

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