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申请/专利权人:成都飞机工业(集团)有限责任公司
摘要:本申请公开了一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法,首先获取规划参数和目标型面数模,随后计算所述目标型面数模的最小二维包围盒,再根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长,根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样获取采样点集,最后根据规划参数对所述采样点集进行优化获取测量点位集合;与现有技术相比,本发明能适应平面、柱面、自由曲面等各种型面,在型面具有复杂内、外边界的情况下仍然具有较强的鲁棒性;同时本发明还能自动化的生成满足测点间距、测点数量、边界避让距离多条件约束的测量点位,测量点位分布合理,布局质量高。
主权项:1.一种航空零部件型面特征测量点位自动规划方法,其特征在于,包括以下步骤:获取规划参数和目标型面数模,其中所述规划参数包括最少测量点位数量Mp,最大测量点间距Dpp、测量点距离目标型面边界最小距离Dpe;根据所述目标型面数模计算所述目标型面数模的最小二维包围盒;根据所述最小二维包围盒和规划参数计算初始采样步长;根据所述初始采样步长在所述最小二维包围盒内采样,获取采样点集;获取采样点集中任意一点,计算点与所述目标型面数模的距离,若距离大于0,则剔除点,否则保留,得到一次筛选采样点集;从一次筛选采样点集中任选一点,计算点与所述目标型面数模每条边界的距离,若任一距离值小于测量点距离目标型面边界最小距离Dpe,则剔除点,否则保留点,得到二次筛选采样点集;统计所述二次筛选采样点集中的采样点个数;若所述采样点个数小于最少测量点位数量Mp,则对所述初始采样步长进行缩放,再重复采样,直至获取测量点位集合;若所述采样点个数大于最少测量点位数量Mp,则对所述二次筛选采样点集进行重新排序,输出测量点位集合。
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权利要求:
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