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申请/专利权人：浙江杭可仪器有限公司
摘要：本发明公开了一种基于FPGA的测试单元，其包括地址产生单元、数据产生单元、地址编码控制单元、发送接收控制单元和用于控制错误信息的错误存储控制单元，所述数据产生单元与所述地址编码控制单元分别与所述地址产生单元信号连接，所述地址编码控制单元和所述数据产生单元分别与所述发送接收控制单元信号连接，所述发送接收控制单元与所述错误存储控制单元信号连接。本发明还公开了一种测试系统和方法。其能存储待测芯片在测试中出现的错误信息，而可以分析待测芯片出现错误的内在原因。
主权项：1.一种基于FPGA的测试单元，其特征在于，其包括地址产生单元、数据产生单元、地址编码控制单元、发送接收控制单元和用于控制错误信息的错误存储控制单元，所述数据产生单元与所述地址编码控制单元分别与所述地址产生单元信号连接，所述地址编码控制单元和所述数据产生单元分别与所述发送接收控制单元信号连接，所述发送接收控制单元与所述错误存储控制单元信号连接，所述地址产生单元包括24bitX地址产生器和24bitY地址产生器，所述24bitX地址产生器与所述24bitY地址产生器信号连接，所述24bitX地址产生器包括4个24bitX地址计数器，所述Y地址产生器包括4个24bitY地址计数器，所述24bitX地址计数器与24bitY地址计数器链接，所述数据产生单元包括用于逻辑运算信息地址的2bit数据产生器，所述2bit数据产生器与所述地址产生单元信号连接，所述2bit数据产生器包括两个对X地址和Y地址进行逻辑运算的逻辑运算模块。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江杭可仪器有限公司 一种基于FPGA的测试单元及其测试系统和测试方法
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