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一种开短路测试装置 

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申请/专利权人:江西晶浩光学有限公司

摘要:本发明实施例公开一种开短路测试装置,该装置包括:第一控制模块、第一电流模块、第一测量模块和第一切换模块,第一控制模块用于对目标芯片的所有引脚进行寻址确认,以从目标芯片依次选择待测引脚;第一切换模块在第一状态和第二状态之间切换,在第一状态时,第一电流模块输出的测试电流经待测引脚的第一二极管、目标芯片的电源端形成通路,在第二状态时,第一电流模块输出的测试电流经目标芯片的地端、待测引脚的第二二极管、第一电流模块形成通路;第一测量模块测量第一二极管的第一偏差电压和第二二极管的第二偏差电压;第一控制模块根据第一偏差电压和第二偏差电压判断待测引脚是否开短路;简化开短路测试装置的结构布置。

主权项:1.一种开短路测试装置,用于对目标芯片的所有引脚进行开短路测试,每个所述引脚连接第一二极管的阳极和第二二极管的阴极,所述第一二极管的阴极连接所述目标芯片的电源端,所述第二二极管的阳极连接所述目标芯片的地端,其特征在于,所述开短路测试装置至少包括第一控制模块、第一电流模块、第一测量模块和第一切换模块,所述第一控制模块、所述第一电流模块和所述第一测量模块之间互相电连接;所述第一控制模块还与所述目标芯片连接,用于对所述目标芯片的所有引脚进行寻址确认,以获得每个所述引脚对应的引脚地址,以及根据所述引脚地址从所述目标芯片依次选择待测引脚;所述第一电流模块还与所述第一切换模块连接,所述第一切换模块在第一状态和第二状态之间切换,当所述第一切换模块切换成所述第一状态时,所述第一电流模块输出第一方向的测试电流,所述第一电流模块输出的测试电流经所述待测引脚的第一二极管、所述目标芯片的电源端形成通路,当所述第一切换模块切换成所述第二状态时,所述第一电流模块输出第二方向的测试电流,所述第一电流模块输出的测试电流经所述目标芯片的地端、所述待测引脚的第二二极管、所述第一电流模块形成通路;所述第一测量模块,用于测量获得所述待测引脚的第一二极管的第一偏差电压和所述待测引脚的第二二极管的第二偏差电压;所述第一控制模块,还用于根据所述第一偏差电压和所述第二偏差电压判断所述待测引脚是否开短路。

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