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稀释机构、粒径分布测量系统、粒径分布测量方法和粒径分布测量用程序 

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申请/专利权人:株式会社堀场制作所;株式会社堀场先进技术

摘要:一种稀释机构10,与通过动态光散射法测量粒径分布的粒径分布测量装置20一起使用,为了在使用动态光散射法的粒径分布测量中,即便在样品所含的粒子的粒径分布变动时也可精度良好地控制该样品所含的粒子的浓度,以便保证测量精度,包括:样品管线L1,将包含粒子的样品引导至粒径分布测量装置20;稀释管线L2,与样品管线L1汇合且供稀释液流动;浓度调整部件11,调整稀释后的样品所含的粒子的浓度;导电率测量部件12,测量稀释后的样品的导电率;控制部13,以由导电率测量部件12测量的导电率或根据该导电率算出的值即导电率关联值成为预定的目标值的方式控制浓度调整部件11。

主权项:1.一种稀释机构,与通过动态光散射法对粒径分布进行测量的粒径分布测量装置一起使用,所述稀释机构的特征在于,包括:样品管线,将包含粒子的样品引导至所述粒径分布测量装置;稀释管线,与所述样品管线汇合且供稀释液流动;浓度调整部件,对稀释后的所述样品所含的粒子的浓度进行调整;导电率测量部件,对稀释后的所述样品的导电率进行测量;以及控制部,以由所述导电率测量部件测量出的导电率或作为根据所述导电率算出的值的导电率关联值成为预定的目标值的方式,对所述浓度调整部件进行控制。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 株式会社堀场制作所 株式会社堀场先进技术 稀释机构、粒径分布测量系统、粒径分布测量方法和粒径分布测量用程序

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