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申请/专利权人：艾因蒂克科技(上海)有限公司
摘要：本申请提出一种超声检测方法、无损探伤装置及轨迹试块，超声检测方法包括在轨迹试块上沿预设路线扫查，识别结构特征，以获得第一数据；根据第一数据获得轨迹特征；在待检工件上沿预设路线扫查，识别缺陷特征，以获得第二数据；使用轨迹特征校准第二数据。超声检测方法首先在轨迹试块上进行扫查，通过在扫查时采集结构特征的数据，能够分析出以预设路线扫查时的实际运动轨迹，在扫查待检工件时，可以使用轨迹特征对第二数据进行校准，从而更加准确地判定扫查到的特征信号是否为缺陷；超声检测方法不受加速度以及拟合精度的影响，更加适用于精密的待测工件，还能够更加充分地满足高速扫查的需求；因此超声检测方法有助于降低误判风险。
主权项：1.一种超声检测方法，其特征在于，包括：在轨迹试块上沿预设路线扫查，识别结构特征，以获得第一数据；根据所述第一数据获得轨迹特征；在待检工件上沿所述预设路线扫查，识别缺陷特征，以获得第二数据；使用所述轨迹特征校准所述第二数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 艾因蒂克科技(上海)有限公司 一种超声检测方法、无损探伤装置及轨迹试块
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